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  2021년 테스트기술 워크숍 성료 안내  
글쓴이 관리자  날짜 2021년 11월 10일 IP From. 210.119.106.25

지난 10월 26일(화)부터 11월1일(월)까지 온라인으로 진행된 2021 테스트기술 워크샵이

사전등록 196명, 영상 뷰 총 633건 등 많은 회원들의 참여 속에 성료 되었습니다.

 

이번 워크샵에서는 

삼성전자 심민규 수석의 '전장향 반도체에 대한 Test환경 및 품질수준 향상을 위한 중요 Item',

Synopsys 송동섭 박사의 'Silicon Lifecycle Management', 

전남대학교 이영우 교수의 'System-on-Chip Security Architecture Against Invasive Attack',

SK하이닉스 안대웅 팀장의 '반도체 공정에서의 빅데이터 분석 활용' 강연이 있었습니다.

 

워크샵을 위해 함께 준비해 주시고, 참석해 주신 모든 분들께 진심으로 감사드립니다.

 

2022년에도 6월 학술대회와 10월 워크숍을 변함없이 계획하고 있으며,

이번 워크샵 사전등록 시 조사한 설문조사 결과를 반영하여 보다 발전적인 행사가 되도록 준비하겠습니다.

 

남은 한해 마무리 잘 하시길 바라며, 

내년에도 많은 참여와 관심을 부탁드립니다.

 

2021년 11월 9일

한국반도체테스트학회 회장 박성주​  

     
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