2009 테스트 기술 워크샵 개최 안내

  2009년 11월 11일 한양대학교에서 “Test Cost Reduction, TSV Test "이란 주제로 테스트 기술 워크샵을 개최하게 되었습니다. 
 
반도체의 고성능화, 고집적화, 다양화에 따른 테스트 비용 상승 문제에 대한 학계와 업계의 여러 전문가들의 의견을 경청하고, 관련된 여러 가지 이슈에 대해 참석하신 회원 여러분들과 전문가 간의 충실하고 유익한 토론의 장이 될 것으로 확신합니다.
 
정기적으로 체계화하여 테스트 기술 관련 현안에 대한 실질적인 교류의 장으로 발전시킬 수 있도록 회원 여러분의 많은 참여 부탁드립니다.

  한껏 기승을 부리던 무더위도 물러나고 어느덧 풍요로운 결실의 계절 가을이 성큼 다가왔습니다.
 
  회원분들의 많은 관심과 참여 부탁드립니다.  감사합니다.