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주제 : 메모리 오류정정 기술의 현황과 미래
  • 일시 : 2018. 10. 23(화) 오후 2시
  • 장소 : 용인양지파인리조트 11층 파인홀
  • 주최 : 사단법인 한국반도체테스트 학회, 한양대 IDEC Platform Center
  • 후원 : 아드반테스트코리아

14:00 ~ 14:10
개회식 안진호(호서대)
14:10 ~ 15:20(70분) 안진호(호서대)
ECC for Reliable DRAM Operation using Spare Columns 양준성(성균관대)
15:30 ~ 16:40(70분) 이중호(용인대)
Memory 반도체 TEST분야의 오류정정 기술 역할 및 활용 박수민(SK하이닉스)
16:50 ~ 18:00(70분) 김병호(한양대)
메모리 오류정정 기술의 이해 공준진(삼성전자)
18:00~
폐회식 김병호(한양대)

세부내용 미정