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주제 : 인공지능/빅데이터 소개 및 응용사례 & 테스트 데이터의 제품 품질 예측/구분 활용 가능성
  • 일시 : 2017. 10. 24(화) 오후 2시
  • 장소 : 용인 양지파인리조트 11층 파인홀
  • 주최 : 사단법인 한국반도체테스트학회, 한양대 IDEC Platform Center

14:00 ~ 14:10 사 회: 박성주(한양대학교)
개회식  
14:10 ~ 15:20(70분) 좌 장: 박성주(한양대학교)
Exploiting k-nearest neighbor information with many data 노영균(서울대학교)
15:30 ~ 16:40(70분) 좌 장: 김병호(한양대학교)
테스트결과 Data에 따른 제품의 품질예측 품질 구분 방법 가능성 정신영(삼성전자)
16:50 ~ 18:00(70분) 좌 장: 양준성(성균관대학교)
제품의 품질 예측을 위한 통계 분석 활용 김홍진(SK하이닉스)
18:00~
토론 및 폐회식 사 회: 안진호(호서대학교)
노영균