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주제 : 인공지능/빅데이터 소개 및 응용사례 & 테스트 데이터의 제품 품질 예측/구분 활용 가능성
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- 일시 : 2017. 10. 24(화) 오후 2시
- 장소 : 용인 양지파인리조트 11층 파인홀
- 주최 : 사단법인 한국반도체테스트학회, 한양대 IDEC Platform Center
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| 14:00 ~ 14:10 |
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사 회: 박성주(한양대학교) |
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| 개회식 |
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| 14:10 ~ 15:20(70분) |
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좌 장: 박성주(한양대학교) |
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| Exploiting k-nearest neighbor information with many data |
노영균(서울대학교) |
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| 15:30 ~ 16:40(70분) |
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좌 장: 김병호(한양대학교) |
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| 테스트결과 Data에 따른 제품의 품질예측 품질 구분 방법 가능성 |
정신영(삼성전자) |
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| 16:50 ~ 18:00(70분) |
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좌 장: 양준성(성균관대학교) |
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| 제품의 품질 예측을 위한 통계 분석 활용 |
김홍진(SK하이닉스) |
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| 18:00~ |
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| 토론 및 폐회식 |
사 회: 안진호(호서대학교) |
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| 노영균
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