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14:00 ~ 14:10 개회식 사회 : 이현빈(한밭대)
DFT for Effective Mobile DRAM Test 강의정(SK하이닉스)
14:10 ~ 15:20(70분) 좌장: 이현빈(한밭대)
RF Device Testing for Mobile Devices 유두식(TERADYNE)
15:30 ~ 16:40(70분) 좌장: 박제영(삼성전자)
The Challenge for AP Test : DFT Perspective 송동섭(삼성전자)
16:50 ~ 18:00(70분) 좌장: 안진호(호서대)
18:00 토론 및 폐회식 사회: 안진호(호서대)