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14:00 ~ 14:10 개회식 사회 : 이현빈(한밭대)
DRAM Scaling Limit에 따른 Row Hammer 특성 대응 강원준(SK하이닉스)
14:10 ~ 15:00(50분) 좌장: 이현빈(한밭대)
Security Issues in IC 양준성(성균관대)
15:10 ~ 16:00(50분) 좌장: 조상복(울산대)
Future IC Test Challenges for Quality, Cost and Time to Market 고진수(TERADYNE)
16:10 ~ 17:00(50분) 좌장: 이중호(용인대)
Practical considerations on ATE for high performance probe card 김규열(삼성전자)
17:10 ~ 18:00(50분) 좌장: 안진호(호서대)
18:00 ~ 18:30 토론 및 폐회식 사회: 안진호(호서대)