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2012년 SERESSA 2012 2013년 2014년
2015년 2016년 2016년


14:00 ~ 14:10 개회식 사회 : 백상현(한양대)
14:10 ~ 15:00 (50분) 좌장 : 백상현 (한양대)
Challenge and Opportunity for future device 안현옥(SK하이닉스)
15:10 ~ 16:00 (50분) 좌장 : 정재용 (인천대)
끝없이 변하는 JTAG표준과 이를 이용한 Sip/3D 소자 테스트의 도전
Sip/3D Device Test Challenges using Ever Changing JTAG Standards
정성수(한양대)
16:10 ~ 17:00 (50분) 좌장 : 김현진 (단국대)
Die Level Testing for 3D Device 조정호(아드반테스트코리아)
17:10 ~ 18:00 (50분) 좌장 : 박성주 (한양대)
Mobile AP Power Validation 이재욱(LG전자)
18:00 ~ 18:30 토론 및 폐회식 사회 : 강성호 (연세대)