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2008년 2009년 2010년 2011년
2012년 SERESSA 2012 2013년 2014년
2015년 2016년 2016년


14:00 ~ 14:10 개회식
14:10 ~ 15:00 (50분) 좌장 : 백상현 (한양대)
Test Solution Challenges 권 혁(삼성전자)
15:10 ~ 16:00 (50분) 좌장 : 장 훈 (숭실대)
BOST를 이용한 테스트 활용 및 응용 방안 조형준 (SK하이닉스)
16:10 ~ 17:00 (50분) 좌장 : 조상복 (울산대)
3D IC DFT Challenges 정근영 (삼성전자)
17:10 ~ 18:00 (50분) 좌장 : 조정호 (SK하이닉스)
IEEE 1149.X 경계스캔 기반의 RPCT 기술 박성주 (한양대)
18:00 ~ 18:30 토론 및 폐회식 사회 : 강성호 (연세대)