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2008년 2009년 2010년 2011년
2012년 SERESSA 2012 2013년 2014년
2015년 2016년 2016년


14:00 ~ 14:10 개회식
14:10 ~ 15:00 (50분) 좌장 : 박정식 상무
SOC Product Key Test Challenges 윤성준(삼성전자)
15:10 ~ 16:00 (50분) 좌장 : 천범익 박사
The Challenge for Memory Test 이대희(하이닉스)
16:00 ~ 16:50 (50분) 좌장 : 강성호 교수
SOC ATE System Design for TFx 고진수(테라다인)
16:50 ~ 17:40 (50분) 좌장 : 박성주 교수
SOC Device Trend & introduction to ATE Solution Masashi Nagai(아드반테스트)
17:40 ~ 18:20 토론 및 폐회식 사회 : 백상현 교수