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2012년 SERESSA 2012 2013년 2014년
2015년 2016년 2016년


13:00 ~ 14:00 현장등록
14:00 ~ 14:10 개회식
DFT for Embedded Memory 좌장 : 박성주 (한양대학교)
14:10 ~ 15:10(60분) DFT for Embedded Memory 배상민(삼성전자)
Built-in redundancy Analysis for memory 좌장 : 조상복 (울산대학교)
15:20 ~ 16:20(60분) Built-in redundancy Analysis for memory 정우식(하이닉스)
Process variation를 고려한 설계 및 TEST 좌장 : 장훈 (숭실대학교)
16:30 ~ 17:30(60분) Process variation를 고려한 설계 및 TEST 강용석(LG전자)
17:30 ~ 17:40 폐회식