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  백우현박사 ( LG전자 )

제5회 테스트 학술 대회가 2004년 6월 4일(금)에 서울 양재동 서울 교육 문화회관에서 개최되었습니다. 이번 학술대회의 주요 주제는 Embedded Test, SoC 환경 하에서의 테스트이며, 차세대 전자산업에서 중요한 역할을 할 SoC 환경의 테스팅과 관련된 그동안의 연구 성과를 발표하고 토론하는 자리를 가졌습니다